GB/T 2423.63-2019環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法試驗∶溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（混合模式）綜合

GB-T2423.63-2019環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗溫度(低溫、高溫)低氣壓振動(混合模式)綜合.pdf

1  范圍

GB/T 2423的本部分規(guī)定了溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（混合模式）綜合試驗的基本要求、嚴酷等級、試驗程序以及其他技術細則。

本部分適用于確定產品在溫度（低溫、高溫）、低氣壓和振動（混合模式）綜合作用下的貯存、運輸和使用的適應性。有溫度變化的綜合試驗可參考本部分。

2  規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。

GB/T 242  環(huán)境試驗  試驗方法編寫導則  術語和定義

GB/T 2423.1  電工電子產品環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法  試驗 A∶低溫

GB/T 2423.2 電工電子產品環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法  試驗 B∶高溫

GB/T 2423.10  電工電子產品環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法  試驗Fc∶振動（正弦）

GB/T 2423.21  電工電子產品環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法  試驗 M∶低氣壓

GB/T 2423.22 環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法  試驗N∶溫度變化

GB/T 2423.26  電工電子產品環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法  試驗Z/BM∶高溫/低氣壓綜合試驗

GB/T 2423.43  電工電子產品環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法  振動、沖擊和類似動力學試驗樣品的安裝

GB/T 2423.56 環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法  試驗Fh∶寬帶隨機振動和導則

GB/T 2423.58  電工電子產品環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法  試驗Fi∶振動  混合模式

GB/T 2424.26 電工電子產品環(huán)境試驗 第3部分∶支持文件和導則 振動試驗選擇